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IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品描述
半導(dǎo)體分立器件動態(tài)測試系統(tǒng)是全智能高速測試系統(tǒng),可用于1200V/1700V/3300V的IGBT模塊開通時(shí)間、關(guān)斷時(shí)間、快恢復(fù)二極
管反向恢復(fù)時(shí)間、反向電流及反向恢復(fù)電荷的測試,通過示波器采集波形,由計(jì)算機(jī)處理數(shù)據(jù)并顯示測量結(jié)果。
通過配置不同的夾具單元,可實(shí)現(xiàn)對不同封裝器件的測試。
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