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產(chǎn)品描述
參數(shù)
KEW3500測(cè)試主機(jī)與HCD大電流臺(tái)選件鏈接成測(cè)試系統(tǒng)，可測(cè)試IGBT參數(shù)包括了 ICES、BVCES、IGESF、IGESR、
VGETH、VGEONs VCESAT、ICON、VF、GFS、RCE等全直流參數(shù)，所有小電流指標(biāo)保證1 %重復(fù)測(cè)試精度，大電流指標(biāo)保證2% 以內(nèi)重復(fù)測(cè)試精度。陽(yáng)極可擴(kuò)展至500A、1000A、1250A、1500A、2500A。
針對(duì)目前封裝的多單元IGBT特征，根據(jù)用戶需要提供4/8/20單元掃描測(cè)試適配器，從而實(shí)現(xiàn)多單元封裝器件的一次性全參數(shù)測(cè)試。
未找到相應(yīng)參數(shù)組，請(qǐng)于后臺(tái)屬性模板中添加
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分立器件動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)
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