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功能及主要參數(shù)：
與KEW3500-2KV-50A主機(jī)連接使用，可完成1µA以下漏電流的智能化精密測(cè)試，穩(wěn)定延遲設(shè)定時(shí)間最長(zhǎng)可達(dá)98ms。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
可以使測(cè)試電流分辨率從原來(lái)的100nA達(dá)到10pA與BR3500測(cè)試主機(jī)構(gòu)成的測(cè)試系統(tǒng)，可完成1uA以下漏電流的智能化精密測(cè)試，穩(wěn)定延遲設(shè)定時(shí)間最長(zhǎng)可達(dá)98ms。
適用于：
J-FET、MDS和二、三極管等器件的IGSS、IBCO、IR等漏電流參數(shù)。
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