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晶體管測(cè)試儀
晶體管測(cè)試儀設(shè)備功能 適用于傳統(tǒng)硅基及SiC二極管、三極管、MOSFET、J-FET、IGBT單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等十九大類(lèi)半導(dǎo)體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測(cè)試
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晶體管測(cè)試儀設(shè)備功能
適用于傳統(tǒng)硅基及SiC二極管、三極管、MOSFET、J-FET、IGBT單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等多種類(lèi)半導(dǎo)體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測(cè)試
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